此订正是针对文章【Xiaxin Ding et al., Nat. Commun. 4, 1897 (2013)】中关于成分分析部分图4的内容做出订正说明。该订正已经于2020年2月21日发表在【Nat. Commun. 11, 1068 (2020)】上。经过杂志编辑和独立评审人对原始数据和文章内容进行系统的检查和分析，得出结论，做出订正的决定，对文章中的一些模糊和不准确的描述进行了订正。欢迎感兴趣的读者阅读。
背景说明：文章《Influence of microstructure on superconductivity in KxFe2-ySe2 and evidence for a new parent phase K2Fe7Se8》于2013年5月21日发表后，有人针对文中关于成分分析部分的图4及相关内容提出疑问。KxFe2-ySe2超导体是2011年底发现的新一类铁基超导体，该材料中相分离现象及其结果对理解铁基超导机理非常重要。2012年，我们小组在研究中发现，不同退火和淬火技术的运用能够大大改变KxFe2-ySe2单晶的超导电性。随炉慢冷的样品（SFC），其超导区域在慢冷过程中会长大，形成岛状（domain，达到微米级）；淬火处理的样品(350度处理后淬火的样品称为S350），超导岛弥散而且很细小(亚微米甚至更小)，但是通路更好 。背景区域（background）总是具有反铁磁的245相。我们承接此项研究，通过电阻，磁化，SEM，EDX(S)，XRD和STM这6种测量手段，对不同热处理的样品进行了深入研究。由于SFC样品的超导岛区域面积较大，因此可以用电镜上的能谱分析功能(EDS/EDX)来分析成份，而对于其他淬火处理的样品，如S350等，因为超导区面积太小，小于电镜光斑尺寸，不能用能谱技术分析成份，因此利用SEM的灰度比率和XRD结果间接得出成分信息。